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美国伊诺斯Innov-X小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER旋转多样品系统 单样品系统

BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室,该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过;XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶,两大技术结合,可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息,可减少实验成本,节约时间和空间。BTX PROFILER...
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产品描述

美国伊诺斯Innov-X小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER旋转多样品系统/单样品系统

X射线衍射技术/集成技术

BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室,该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过;XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶,两大技术结合,可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息,可减少实验成本,节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器,以保证快速获取全面优质的数据信息,XRD部分使用CCD二维面探测器,该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息,XRF部分则采用SDD探测器,实现更低的检测下限和更高的灵敏度。

技术规格

jdy

XRD和XRF组合技术

①XRD微聚焦X射线管

②XRD X射线束 

③XRD准直器  ④XRD样品 

⑤CCD探测器  ⑥XRF X射线管 

⑦滤光轮    ⑧XRF X射线束

⑨XRF样品  ⑩ XRF SDD探测器

用于化合物分析的二维XRD

XRD采用透射衍射几何技术,使用能量敏、

位敏的二维CCD面探测器,实现了仪器的小

型化和更为紧凑的结构

1、探测器收集整个德拜环的信息而非传统

台式机只能收集德拜环一个截面的信息,增大

了数据

2、检测快速,全谱显示而非步进扫描,普通样

 分钟即可

无测角仪的XRD

使用样品振动系统(样品在检测过程中以6000hz的频率随机振动),替代传统台式XRD测角仪可以实现以下功能:

1、样品制备简单:样品无需制片、压片、刮片,只需得到<150um的颗粒即可; 2、实现样品颗粒的全方位角度的检测

3、完全消除检测过程中晶体的择优取向; 4、增加了样品检测量

用于全元素分析的能量色散型(ED)XRF

1、大功率射线管,配以超大面积SDD探测器;2、真正实现了在现场进行快速,准确的检测;3、直接显示元素的ppm含量与百分比含量;4、全元素分析,从镁(Mg)到铀(U)之间的所有元素;5、7个滤光片设置,可根据元素自动选择最优滤光片;6、可选配氦气装置进一步提高轻质元素的检测效果

XRD-XRF联用仪/应用领域

BTX PROFILER集成二维XRD技术及ED-XRF技术,可对材料实现全面的分析检测,提供材料的元素组成、化学成分、晶体结构等方面的信息。广泛应用于地质矿产、石油地质录井、地球化学、制药、催化剂、法医、材料等工业及科研领域。

矿物鉴定  XRD录井钻井 催化剂研发 选矿效率

矿石品位  能源勘探    腐蚀物鉴定与防腐

石油地质  药物多晶型  材料成分及结构

XRF录井钻井  真假药识别  教育与科研

XRD-XRF联用仪/配置

BTX PROFILER旋转多样品系统

1、仪器配置带4个样品的自动进样系统

2、可选配带20个样品的自动进样系统

3、可按程序设定对20个样品依次检测分析

4、适用于检测样品量较大、分析时间较长、无需操作人员在场的情形

5、可选配氦气净化装置,有利于Mg、Al、Si、P、S等轻元素的检测。

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