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LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。 仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提...
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产品描述
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求,是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
 
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
              
特点概述:
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项:
出厂时已校准,立即可用
在未知涂层上校准
零校准
在无涂层的基体上一点和多点校准
在有涂层的基体上校准 
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
可选择的显示模式,以最佳形式去完成测量任务
输入和极限监视*
在Windows下有简单的存储读数档案管理
可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计:
可统计评估999个读数
最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别:
基本型 – 证明质量的基本特征                               
高级型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
解锁代码可以很方便的升级
多样的探头:
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加
暂未实现,敬请期待
暂未实现,敬请期待
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